精致型光學掃瞄系統
          發布時間: 2020-04-01 00:00    

      測量范圍:
      x軸 100mm~200
       

      Z1軸:60mm 

      立柱:300~500mm

      測量精度: 

      x軸: (0.8+0.01L)μm 

      Z1軸: ±(1.6+|2H|)μm 


         精致型光學掃瞄系統
          ATOS Compact Scan

          精致型光學掃描系統在三維掃描與檢測領域,定義了一個全新的設備等級。重量輕化,結構緊湊,開啟新的應用領域,并能維持極致的操作能力,如鑄造和射出件、外觀與模型、內部空間、原型、模型設計,...等。
      先進的硬體與強大的軟體完整的結合,以供執行掃描與檢測的工作。密集的硬體和軟體的培訓計畫和可靠的全球支援網絡,形成一個完整的方案,這些都全基於有競爭力的售價。

          ATOS Compact Scan - The compact class of scanning
          ATOS精緻型光學掃描系統提供您:

          藍光技術
          掃描與接觸式探針
          多樣的掃瞄范圍
          精緻型等級
          便攜式測量系統
          完整的測量系統

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